SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品由燒結(jié)氧化鋁圓盤組成，用于校準(zhǔn) X 射線粉末衍射設(shè)備的線位置和強(qiáng)度作為 2θ 角的函數(shù)。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過(guò)程引入的強(qiáng)度測(cè)量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約為 25.6 毫米、厚度為 2.2 毫米的燒結(jié)氧化鋁圓盤組成。

典型應(yīng)用場(chǎng)景

 儀器校準(zhǔn)：SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品作為 XRD 設(shè)備的基準(zhǔn)校準(zhǔn)物質(zhì)，可實(shí)現(xiàn) 2θ 角峰位精度校準(zhǔn)（如布魯克 D8 ADVANCE 系列依賴其實(shí)現(xiàn)≤0.01°2θ 的峰位精度保證）。

 性能驗(yàn)證：適用于 Rigaku Miniflex 等帶自動(dòng)進(jìn)樣器的 XRD 系統(tǒng)，用于質(zhì)量控制、方法驗(yàn)證和儀器性能長(zhǎng)期監(jiān)控。

 數(shù)據(jù)校正：可用于獲取儀器輪廓函數(shù)（IPF）近似值，為衍射峰形分析、微觀結(jié)構(gòu)計(jì)算提供校正依據(jù)。 

使用與儲(chǔ)存要求 

1. 使用規(guī)范 

安裝時(shí)可沿表面法線任意方向擺放，軸對(duì)稱紋理設(shè)計(jì)確保不同安裝角度下的測(cè)量一致性。測(cè)量過(guò)程中需考慮偏振影響，建議結(jié)合設(shè)備配套軟件進(jìn)行參數(shù)修正。 

2. 儲(chǔ)存條件 

SRM1976c  X射線粉末標(biāo)準(zhǔn)品無(wú)需特殊低溫環(huán)境，在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度、干燥避光條件下儲(chǔ)存即可。避免圓盤表面劃傷、污染或物理?yè)p壞，否則將導(dǎo)致認(rèn)證失效；未發(fā)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室常規(guī)使用下的衍射性能退化現(xiàn)象。

3. 認(rèn)證有效性 

在符合儲(chǔ)存和使用規(guī)范的前提下，認(rèn)證結(jié)果在規(guī)定測(cè)量不確定度內(nèi)無(wú)限期有效。

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